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MMJ-3100M 超長距金相顯微鏡
一、產品介紹：
MMJ-3100M工業金相顯微鏡是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業需求而開發的。作為工業檢測金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其優越性能，可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測，可觀察較厚的標本。穩定、高品質的光學系統使成像更清晰，襯度更好。符合人機工程學要求的設計，使您在工作中感到舒適和放松。
二、技術參數
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項目名稱 |
MMJ-3100M技術參數指標 |
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光學系統 |
無限遠光學超長工作距離復消色差觀察系統 |
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大視野目鏡 |
WF10X/25mm |
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無窮遠共軛95mm超長工作距離 復消色差金相物鏡 |
5X/0.13/∞/-(共軛95mm超長工作距離) LWD 44.5MM |
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10X/0.28/∞/-(共軛95mm超長工作距離) LWD 34MM |
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20X/0..29/∞/0(共軛95mm超長工作距離) LWD 31 MM |
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50X/0.42/∞/0(共軛95mm超長工作距離) LWD20.1 MM |
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觀察頭 |
鉸鏈式三目觀察頭，30°傾斜，瞳距50-75mm |
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反射照明 |
12V/50W鹵素燈，AC85V-230V,亮度可調 |
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藍、綠、磨砂玻璃 |
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偏光裝置 |
檢偏鏡可360°轉動，起偏鏡和檢偏鏡均可移出光路 |
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調焦系統 |
粗、微動同軸調焦。微調格值2μm，粗動松緊調節，帶限位裝置，移動范圍32mm |
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轉換器 |
可調中心4孔轉換器 |
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平臺 |
底座396X276X22mm，立柱高度300mm，立柱直徑30mm |
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雙層移動平臺，移動范圍：50mm×40mm |
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平臺尺寸：190mm×140mm |
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檢測工具 |
0.01mm測量標尺 |
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攝像系統 |
高清630萬像素工業攝像機 |
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高清成像系統軟件 |
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自帶測量軟件，精度達1um |
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選配件 |
高清2000萬像素相機，明暗場100倍金相物鏡 |
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